高密度的LED阵列发射处高强度均匀光,通过一种带有特殊涂层的半透明面反射出的光线与相机在同一轴线上,并可消除采集图像的重像和反光现象,适合于经过镜面加工的工件表面划痕的检测。
检测范围:检测晶片上的激光标注、高反光面的划伤检测、检测金属、玻璃上的二维码。
高密度的LED阵列发射处高强度均匀光,通过一种带有特殊涂层的半透明面反射出的光线与相机在同一轴线上,并可消除采集图像的重像和反光现象,适合于经过镜面加工的工件表面划痕的检测。
检测范围:检测晶片上的激光标注、高反光面的划伤检测、检测金属、玻璃上的二维码。




序号 |
型号 |
电压(V) | 功率(W) | 重量(g) | ||
R | G/B/W | IR | ||||
1 | 03020 | 24 | 1 | 1.2 | 1 | ≈80 |
2 | 03030 | 24 | 2.4 | 3.3 | 2.4 | ≈120 |
3 | 03040 | 24 | 3 | 4.3 | 3.4 | ≈180 |
4 | 03050 | 24 | 3.7 | 6 | 4.8 | ≈280 |
5 | 03060 | 24 | 5.3 | 8 | 6.4 | ≈410 |
6 | 03070 | 24 | 6 | 9 | 7.2 | ≈500 |
7 | 03080 | 24 | 6.6 | 10 | 8 | ≈670 |
8 | 03090 | 24 | 8 | 12 | 9.6 | ≈780 |
9 | 03100 | 24 | 9 | 14 | 11 | ≈960 |
10 | 03120 | 24 | 12 | 18 | 14 | ≈1220 |
11 | 03140 | 24 | 16 | 24 | 19 | ≈1670 |



