平面同轴光源

139-2253-7553
平面同轴光源

高分辨率成像的理想选择;高反光工件检测应用中,大幅度减低重影现象,超薄平面同轴光更加适合于有空间局限的安装工位。

检测范围:精密零器件缺陷检测,高精度尺寸测量,芯片表面缺陷检测,精密医疗器械元器件赃污检测。

高分辨率成像的理想选择;高反光工件检测应用中,大幅度减低重影现象,超薄平面同轴光更加适合于有空间局限的安装工位。

检测范围:精密零器件缺陷检测,高精度尺寸测量,芯片表面缺陷检测,精密医疗器械元器件赃污检测。





序号

 

型号

 

电压(V)

 

功率(W)

 

发光面尺寸

 

重量/g

1

43050

24

5.8

50 * 50

100

2

43060

24

5.8

58 * 58

100

3

43070

24

5.8

70 * 70

150

4

43100

24

8.6

100 * 100

220

5

43140

24

11.5

140 * 140

310

6

43200

24

17

200 * 200

330

7

43285

24

23

285 * 285

670



说明书|3D模型
  • 同轴光源
    同轴光源
    平面同轴光源.PDF
    更新时间:2026-03-04下载次数:0
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